iPhone 14 Pro系列将采用屏下面容ID，同时改成打孔屏设计
发布时间：2022-01-07 10:59:27 所属栏目：产品 来源：互联网
导读：根据爆料者@dylandkt 的最新消息称，苹果今年秋季将发布的iPhone 14 Pro将确定采用屏下面容ID设计。在过去一年多的时间中，@dylandkt 给出的苹果相关预测一直都较为靠谱。 同时，@dylandkt 还提到，虽然面容ID在屏幕下方，但功能上没有影响，这意味着面容ID识
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根据爆料者@dylandkt 的最新消息称，苹果今年秋季将发布的iPhone 14 Pro将确定采用屏下面容ID设计。在过去一年多的时间中，@dylandkt 给出的苹果相关预测一直都较为靠谱。 同时，@dylandkt 还提到，虽然面容ID在屏幕下方，但功能上没有影响，这意味着面容ID识别速度不会减慢。值得一提的是，iPhone 14 Pro和iPhone 14 Pro Max会采用屏下面容ID，而且均是打孔屏设计，只会将面容ID设计在屏幕下方，摄像头依然需要开孔。也就是说iPhone上多年保留的“刘海儿”可能要在2022年的高端iPhone中取消，通过更新的配色、外观设计促进消费者购买或是换新。 苹果在多条产品线上的更新策略都无比清晰。通过外观、颜色、尺寸的不同进行升级，时隔一年后，再通过例如影像、配置、芯片甚至是加入新的黑科技的手段让老用户迫不及待的想要换新，让新用户忍不住的想买。 （编辑：云计算网_泰州站长网） 【声明】本站内容均来自网络，其相关言论仅代表作者个人观点，不代表本站立场。若无意侵犯到您的权利，请及时与联系站长删除相关内容! |
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